IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)X射線CT SKYSCAN 1275

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)X射線CT SKYSCAN 1275

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)X射線CT SKYSCAN 1275

SKYSCAN 1272 CMOS,SKYSCAN 1275,SKYSCAN 2214,SKYSCAN 1273,nano3DX

高分(fēn)辨率台式X射線CT SKYSCAN 1272 CMOS版是一(yī)個突破性的系統,在緊湊的桌面外殼中實現了(le)高分(fēn)析性能(néng),能(néng)夠觀察小至約2μm的結構。此外,可以選擇安裝16位自動進樣器(qì),這極大地有助于實現全自動化(huà)和高通量。滿足食品中污染物分(fēn)析、藥物成分(fēn)密度分(fēn)布、金(jīn)屬零件微裂紋檢測等對分(fēn)辨率要求高的領域的無損分(fēn)析需求。

台式高通量X射線CT(三維X射線顯微鏡)SKYSCAN 1275特征:可實現最短掃描時間約80秒(miǎo)的高速處理(lǐ)；使用Push-Button-CT進行自動測量；高靈敏度平闆探測器(qì)；樣品尺寸：長200mm,直徑96mm；掃描尺寸：長120mm,直徑96mm。

SKYSCAN 2214是一(yī)款多功能(néng)設備,可用于超高分(fēn)辨率掃描和大樣本尺寸。我們滿足廣泛領域的需求,包括地質學、複合材料、電池和電子(zǐ)元件。可裝載直徑300mm的樣品,直徑12mm以下(xià)的樣品實現像素分(fēn)辨率500nm以下(xià)的高分(fēn)辨率測量。X射線源配備了(le)開放(fàng)式金(jīn)剛石窗口納米焦點X射線源,可實現有助于高分(fēn)辨率的小焦點直徑。最多可安裝4種X射線檢測器(qì)設計靈活度高,可根據用途進行選擇。

用于大型樣品的台式 X 射線 CT(3D X射線顯微鏡)SKYSCAN 1273特征:高能(néng)同時節省空間；封裝微焦點X射線源；自動8過濾器(qì)更換器(qì)；掃描尺寸:75mm 直徑。

高分(fēn)辨率3DX射線顯微鏡nano3DX:通過組合理(lǐ)學高亮度X射線發生(shēng)器(qì)和高分(fēn)辨率X射線照相機,可以觀察亞微米區域的高分(fēn)辨率3DX射線顯微鏡。與以往的X射線顯微鏡相比,提高了(le)密度分(fēn)辨率,可實現"高2D/3D空間分(fēn)辨率"、"高對比度"、"寬成像區域"的觀察。該設備可用于生(shēng)物材料、高分(fēn)子(zǐ)材料、複合材料、輕金(jīn)屬等微觀結構的解析和定量測量。