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IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)透射電子(zǐ)顯微鏡JEM-F200

簡要描述：

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)透射電子(zǐ)顯微鏡JEM-F200
JEM-1400Flash,JEM-F200

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IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)透射電子(zǐ)顯微鏡JEM-F200

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)透射電子(zǐ)顯微鏡JEM-F200

JEM-1400Flash,JEM-F200

JEM-1400Flash應用于從生(shēng)物學到納米技術、高分(fēn)子(zǐ)材料等廣泛領域,應用領域正在不斷擴大。特别是在生(shēng)物學、高分(fēn)子(zǐ)材料研究、藥物、病理(lǐ)切片、病毒、熒光顯微鏡等領域,們首先通過标記樣品的低(dī)倍觀察來确認組織、結構、位置和視野的整體狀态,并且近年來越來越需要使這一(yī)系列的觀察流程更簡單,有良好(hǎo)(hǎo)的吞吐量,高速獲取數據,EM-1400Flash是一(yī)款新(xīn)型透射電子(zǐ)顯微鏡,速電壓爲120 kV,有高靈敏度sCMOS相機、超廣角蒙太奇系統和連接光學顯微鏡圖像的擴展功能(néng)和電子(zǐ)顯微鏡。

特征:高靈敏度sCMOS相機"閃相機"；新(xīn)功能(néng)超廣角蒙太奇系統"限全景(LP)"；新(xīn)功能(néng)光學顯微鏡圖像鏈接功能(néng)"片疊加"；新(xīn)設計純白色和LED燈的協作(zuò)。

多功能(néng)電子(zǐ)顯微鏡JEM-F200大大提高了(le)機械和電氣穩定性。除了(le)提高空間分(fēn)辨率和分(fēn)析性能(néng)外,還配備了(le)一(yī)個新(xīn)的操作(zuò)系統,顧了(le)多用途的可操作(zuò)性,是一(yī)款以還原概念開發的場發射透射電子(zǐ)顯微鏡。

特征:

配備新(xīn)的照射光學系統"uad-Lens 聚光系統", 4級聚焦透鏡。

成像系統電子(zǐ)束操作(zuò)功能(néng)"級掃描系統"。

視野可以按皮米量級移動。

自動支架插入/取出裝置"PECPORTER"。

也(yě)可安裝冷陰極場發射電子(zǐ)槍。

可同時安裝兩個大口徑矽漂移探測器(qì)(DD)。

配備環保模式。

 


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