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IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)原子(zǐ)力顯微鏡FX40

簡要描述：

IKEIDARIKA池田理(lǐ)化(huà)原子(zǐ)力顯微鏡FX40
FX40,NX10,AFM100,AFM100 Plus

咨詢電話：0755-28286052

分(fēn)享到：

FX40,NX10,AFM100,AFM100 Plus

自動原子(zǐ)力顯微鏡FX40可自動執行傳統手動執行的探針交換、光束對準、樣品位置調整等。作(zuò)爲用于研究的緊湊型原子(zǐ)力顯微鏡,它可以輕松獲取高精度數據,同時保持過去的基本設計元素。

特征:自動完成掃描開始前的所有工作(zuò)；有史以來第一(yī)台用于研究的雙攝像頭原子(zǐ)力顯微鏡；支持多種測量模式和選項；樣品:最多 4 個。

研究型原子(zǐ)力顯微鏡NX10配備獨立的 XY/Z 軸掃描儀,可以獲得精确的表面形狀,而不會出現水平失真。True non-contact mode,非接觸,不損傷樣品表面,實現高重複性,無需消耗吸頭。

特征:

納米級表面測量低(dī)噪聲 Z 檢測器(qì)的精确形貌圖像

True Non-Contact Mode測量,非接觸意味着沒有樣品損壞和最長的壽命

易于使用的用戶界面,SmartScan提供一(yī)鍵式芯片更換和簡單操作(zuò)

緊湊型探針顯微鏡AFM100 系列AFM100/100 Plus特征:

Autopilot 功能(néng)可實現"一(yī)鍵式"測量到分(fēn)析

高級模式(SIS模式)和測量參數自動調整功能(néng)(Real Tune II)提高數據可靠性

與 SÆMic(AFM-SEM 相關顯微鏡)兼容,可進行多方面分(fēn)析